LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源，包括X射线、紫外光源和红外光源等，以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质，也可以测量光激发下的材料发光谱。

SL08型 释光测量仪适用于荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。测量仪可以对样品进行x射线、紫外线原位照射，以及测量热释光和光释光发光曲线，既可以读出累计辐射剂量值，也可以进行发光材料的缺陷能级分析。测量程序具有参数编辑、发光曲线显示、数据处理等功能。仪器采用最新模块化设计，质量可靠，造型美观，使用方便，功能丰富，温度控制稳定，涉及多项专利技术。

正电子湮没谱仪（DPALMS）用于金属、合金、半导体材料等的测量。该装置包括两个采集模块和两个电源模块。在寿命谱模式中，时间是用采样率3GS/s采集卡来采集的，它是采集来自两BaF2闪烁体的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽测量（CDB）的模式中，二维直方图是通过符合两个锗半导体探测器的波峰值得到的。此外，该设备还可以用来测AMOC，寿命动量关联谱。