LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源，包括X射线、紫外光源和红外光源等，以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质，也可以测量光激发下的材料发光谱。

SL08型 释光测量仪适用于荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。测量仪可以对样品进行x射线、紫外线原位照射，以及测量热释光和光释光发光曲线，既可以读出累计辐射剂量值，也可以进行发光材料的缺陷能级分析。测量程序具有参数编辑、发光曲线显示、数据处理等功能。仪器采用最新模块化设计，质量可靠，造型美观，使用方便，功能丰富，温度控制稳定，涉及多项专利技术。

正电子湮没谱仪（DPALMS）用于金属、合金、半导体材料等的测量。该装置包括两个采集模块和两个电源模块。在寿命谱模式中，时间是用采样率3GS/s采集卡来采集的，它是采集来自两BaF2闪烁体的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽测量（CDB）的模式中，二维直方图是通过符合两个锗半导体探测器的波峰值得到的。此外，该设备还可以用来测AMOC，寿命动量关联谱。

YF19-1量子效率测量系统是用于评价发光材料性能，测试光致发光绝对量子产率的测试仪器。 其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配置，覆盖紫外-近红外的范围，具有高灵敏度的背照式CCD探测器，从而有效解决上转换荧光量子产率的难以测试的问题。

TLD-2000B型精密退火炉是专为热释光探测器设计的热释光元件退火装置。其特点是温度控制精确，性能稳定可靠，操作简单方便，外形美观大方，适合各种热释光元件的退火处理，是热释光剂量测量系统的理想配套装置。

RD182型双通道热释光测量仪可用于放射性工作人员的个人剂量监督，也广泛用于环境测量、医疗卫生等方面。测量仪可以对经过β、γ、中子、X射线等辐照后的热释光剂量元件进行测量，读出累计剂量值。仪器配置双通道测量入口，大大提高测量效率。探头实现恒温控制模式，保证测量数据的稳定性和精度。仪器采用彩色触摸屏操作，测试过程实现全自动化，采用最新模块化设计，使用方便，温度控制稳定精确，涉及多项专利技术。