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LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪
LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱,即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构,为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源,包括X射线、紫外光源和红外光源等,以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质,也可以测量光激发下的材料发光谱。¥ 0.00立即购买
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SL08型 释光测量仪
SL08型 释光测量仪适用于荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。测量仪可以对样品进行x射线、紫外线原位照射,以及测量热释光和光释光发光曲线,既可以读出累计辐射剂量值,也可以进行发光材料的缺陷能级分析。测量程序具有参数编辑、发光曲线显示、数据处理等功能。仪器采用最新模块化设计,质量可靠,造型美观,使用方便,功能丰富,温度控制稳定,涉及多项专利技术。¥ 0.00立即购买
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正电子湮没谱仪DPALMS
正电子湮没谱仪(DPALMS)用于金属、合金、半导体材料等的测量。该装置包括两个采集模块和两个电源模块。在寿命谱模式中,时间是用采样率3GS/s采集卡来采集的,它是采集来自两BaF2闪烁体的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽测量(CDB)的模式中,二维直方图是通过符合两个锗半导体探测器的波峰值得到的。此外,该设备还可以用来测AMOC,寿命动量关联谱。¥ 0.00立即购买
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荧光量子效率测量系统-YF19-1
YF19-1量子效率测量系统是用于评价发光材料性能,测试光致发光绝对量子产率的测试仪器。 其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配置,覆盖紫外-近红外的范围,具有高灵敏度的背照式CCD探测器,从而有效解决上转换荧光量子产率的难以测试的问题。¥ 0.00立即购买
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TOSL-3DS型热释光光释光三维光谱仪
TOSL-3DS型热释光光释光三维光谱仪适用于有关荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。热释光和光释光的三维发光谱,即包含温度(或衰退时间)和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构,为热释光和光释光的发光机制研究提供新的参数。它以计算机为控制中心,测试过程完全实现自动化。仪器质量可靠,造形美观,使用方便,温度控制稳定精确,涉及多项专利技术。¥ 0.00立即购买
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